光学機器メーカーは、光学機器の設計において関連する特許の状況を把握していることが重要です。特許庁が提供する特許情報プラットフォーム（J-PlatPat）は、文字による全文検索や分類コードで各種特許情報を提供しています。本検索システムは、特許庁の検索機能に加えてより専門的なレンズ性能に関する一般パラメータ及びカスタムパラメータを用いた検索を可能にしています。一般パラメータは、光学系パラメータとしての画角、焦点距離やFナンバーなど約65種類があります。カスタムパラメータは、複数の一般パラメータと演算子を用い数式として定義します。光学設計者は、本システムによって特許明細書の請求項や実施例を検証する煩雑な作業から開放され、類似特許への抵触性や新規アイデアの有効性を正確にまた迅速に判断することができます。

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